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突破熱管理瓶頸!芳綸基雙向高導(dǎo)熱石墨膜研究取得重大進展
文章來源:賢集網(wǎng)     更新時間:2025-06-24 15:53:45
在電子科技飛速發(fā)展的今天,芯片性能提升與體積縮小并行,功率密度飆升導(dǎo)致熱管理問題成為制約電子器件穩(wěn)定運行的核心瓶頸。現(xiàn)有碳基高導(dǎo)熱材料雖面內(nèi)熱導(dǎo)率出色,超過1500 W/m?K時,面外熱導(dǎo)率卻普遍低于8 W/m?K,最低僅4 - 5 W/m?K,難以滿足高功率器件三維熱傳導(dǎo)需求 。 



就在行業(yè)發(fā)展陷入瓶頸之際,近日,中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所丁古巧、何朋團隊聯(lián)合寧波大學(xué)王剛團隊于國際知名期刊《Advanced Functional Materials》發(fā)表的一項重磅研究成果,無疑為困境中的熱管理技術(shù)領(lǐng)域帶來了新的曙光。 



該團隊提出以芳綸膜為前驅(qū)體,通過高溫石墨化工藝制備出低缺陷、大晶粒、高取向的雙向高導(dǎo)熱石墨膜,在膜厚度 40 微米的情況下,實現(xiàn)面內(nèi)熱導(dǎo)率 Kin 達到 1754 W/m?K,面外熱導(dǎo)率 Kout 突破 14.2 W/m?K,成功突破了碳基薄膜面外熱導(dǎo)率的瓶頸。

                                       

傳統(tǒng)工藝遇困境,創(chuàng)新選材尋突破



傳統(tǒng)石墨膜制備通常以氧化石墨烯或聚酰亞胺為原料,但在制備過程中,不可避免地面臨氣體逸散導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)缺陷難題。這些結(jié)構(gòu)缺陷嚴(yán)重影響了石墨膜的熱導(dǎo)率和整體性能,使得其在高功率器件熱管理中的應(yīng)用受限。



針對這一現(xiàn)狀,聯(lián)合研究團隊大膽創(chuàng)新,選用芳綸膜作為前驅(qū)體。芳綸膜具有獨特的化學(xué)特性,其低氧含量(——11%)和氮摻雜特性(氮含量——9%)成為制備高性能石墨膜的關(guān)鍵。在 3000℃的高溫處理過程中,芳綸膜的這些特性發(fā)揮了重要作用,實現(xiàn)了缺陷自修復(fù)、晶粒定向生長及氣體逸散優(yōu)化。



其中,芳綸中的氮原子能夠有效促進晶格缺陷的修復(fù),經(jīng)過退火處理后,制備出的雙向高導(dǎo)熱石墨膜缺陷指標(biāo) ID/IG 低至 0.008;而芳綸分子中有序排列的苯環(huán)則為石墨晶格的生長提供了理想的模板,促使面內(nèi)晶粒尺寸(La)達到 2179 nm,面外有序堆疊尺寸(Lc)達到 53 nm ,從根本上解決了傳統(tǒng)原料存在的缺陷問題,為制備高性能石墨膜奠定了基礎(chǔ)。

                                             

雙向?qū)犸@優(yōu)勢,性能突破創(chuàng)佳績



通過對材料結(jié)構(gòu)的巧妙調(diào)控,以芳綸膜為前驅(qū)體制備的雙向高導(dǎo)熱石墨膜展現(xiàn)出了優(yōu)異的雙向?qū)嵝阅堋T诿鎯?nèi)熱導(dǎo)率方面,達到 1754 W/m?K,相較于同條件下氧化石墨烯衍生膜提升了 17%。



在面外熱導(dǎo)率上的突破更為顯著,達到 14.2 W/m?K,較傳統(tǒng)碳基薄膜提升了 118%,徹底打破了碳基薄膜面外熱導(dǎo)率的瓶頸。此外,該石墨膜的亂層堆垛比例僅為 1.6%,幾乎接近理想石墨 AB 堆疊結(jié)構(gòu),這使得其在熱傳導(dǎo)過程中的效率大幅提高,熱阻顯著降低。



與傳統(tǒng)導(dǎo)熱膜相比,芳綸基雙向高導(dǎo)熱石墨膜在面內(nèi)和面外熱導(dǎo)率以及缺陷控制方面均展現(xiàn)出了壓倒性優(yōu)勢。這種全方位的性能提升,使其在高功率器件熱管理領(lǐng)域具備了更強的競爭力,為解決電子器件的熱管理難題提供了新的有效途徑。



模擬應(yīng)用效果優(yōu),未來前景無限廣



為了驗證芳綸基雙向高導(dǎo)熱石墨膜的實際應(yīng)用效果,研究團隊進行了一系列模擬實驗。在智能手機散熱模擬中,搭載該石墨膜的芯片表面最高溫度從 52℃大幅降至 45℃,有效緩解了芯片過熱問題,提升了手機運行的穩(wěn)定性和用戶體驗。



在更為嚴(yán)苛的 2000 W/cm² 熱流密度的高功率芯片散熱模擬中,該石墨膜同樣表現(xiàn)出色,使芯片表面溫差從 50℃驟降至 9℃,能夠快速實現(xiàn)溫度均勻化,確保高功率芯片在極端條件下也能穩(wěn)定運行。



這項研究不僅揭示了芳綸前驅(qū)體在石墨膜制備中的獨特優(yōu)勢,更重要的是證明了氮摻雜與低氧含量前驅(qū)體能夠顯著提升石墨膜的結(jié)晶質(zhì)量和雙向?qū)崽匦浴?/span>



其在雙向?qū)嵝阅苌系闹卮笸黄疲瑸?5G 芯片、功率半導(dǎo)體等高功率器件的熱管理提供了關(guān)鍵材料和技術(shù)支撐。隨著相關(guān)技術(shù)的進一步完善和產(chǎn)業(yè)化推進,芳綸基雙向高導(dǎo)熱石墨膜有望廣泛應(yīng)用于電子、通信、航空航天等多個領(lǐng)域,為推動相關(guān)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展和技術(shù)升級發(fā)揮重要作用。



該研究成果以 “Bidirectionally High‐Thermally Conductive Graphite Films Derived from Aramid for Thermal Management in Electronics” 為題發(fā)表于《Advanced Functional Materials》(2025, 2425824,https://doi.org/10.1002/adfm.202425824) 。論文第一作者為中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所博士生鄭豪龍、楊舒景,研究得到了國家自然科學(xué)基金等項目的大力支持。這一成果的取得,是科研團隊多年來不懈努力和創(chuàng)新探索的結(jié)果,也為未來熱管理材料的研究和發(fā)展開辟了新的方向。

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來源:賢集網(wǎng)
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